김승모, 강수철, 임성관, 허선우, 이호인, 이용수, 이병훈, "동작 메커니즘에 기반한 Tunnel FET의 신뢰성 측정법에 관한 연구", The 25th Korean Conference on Semiconductors (KCS), (2018)
첨부파일 : 2018_KCS_김승모.pdf